低價(jià)處理!HP4284A/HP4284A/HP4284A電橋　魏S 13528795989

   HP4284A電橋HP4284A HP 4284A　魏S 13528795989

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HP4284A+HP42841A橋簡(jiǎn)介：
1.20Hz-1MHz具有8600個(gè)以上的測(cè)試頻率
2.0.05%的基本精度，6位數(shù)字分辨率
3.恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平
4..20Vrms電平選件（選件001）
5.用Alilent 42841A進(jìn)給出40Adc
6.具有列表掃描測(cè)量功能
頻率范圍：20HZ—1MHZ
阻抗范圍：0.01mΩ-100MΩ
基本測(cè)量精度：0.05%
HP4284AHP4284AHP4284A
測(cè)試材料的電導(dǎo)率ρ，介電常數(shù)ε，電阻R，電抗X，阻抗Z，導(dǎo)納Y，電導(dǎo)G，電納B，電感L，介電損耗D ，品質(zhì)因數(shù)Q
LCD點(diǎn)陣顯示： 顯示被測(cè)值，控制設(shè)置，比較極限和判決，列表掃描表，自測(cè)試信息和信號(hào)指示
修正功能 開(kāi)路/短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差
接負(fù)載： 利用已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量精度
列表掃描功能 *多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)電平編程?？蛇M(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試，當(dāng)安裝上選件001時(shí)，還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試
比較器
 10倉(cāng)室（ten-bin)分類(lèi)用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于一次測(cè)量參數(shù) 
倉(cāng)室計(jì)數(shù)： 0-999999
 HP4284AHP4284AHP4284A
列表掃描比較器： 高/符合/低判定輸出用于列表掃描表中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn)
Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過(guò)提供**、高吞吐量的測(cè)試方法來(lái)改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合*通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)（國(guó)際電工委員會(huì)或美國(guó)**標(biāo)準(zhǔn)），且工作在模擬所使用的工作條件下。無(wú)論在研究開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。
HP4284AHP4284AHP4284A
補(bǔ)充特性：  
測(cè)量時(shí)間： 從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間
短 40ms
中等 190ms
長(zhǎng) 830ms
選件001直流偏流輸出 100mA
max 
HP4284A顯示器：  

其它功能：  
存儲(chǔ)/加載：
10個(gè)儀器設(shè)置可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器存儲(chǔ)/加載。10個(gè)附加設(shè)置還能由一個(gè)儲(chǔ)存卡存儲(chǔ)/加載
HP-IB 所有儀器控制設(shè)置，被測(cè)值，比較極限，列表掃描表和自測(cè)試結(jié)果
存儲(chǔ)器： 存儲(chǔ)緩存器能存儲(chǔ)*多128個(gè)測(cè)量結(jié)果，并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù)，ASCII和64位二進(jìn)制數(shù)據(jù)格式

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